IS1740 Wafer ID Reader

IS1740 Wafer ID Reader|輕鬆解碼晶圓 ID,實現高精度追蹤
晶圓可追溯性
以一致的方式將晶圓 ID 標記解碼,就能在切割流程之前可靠地追蹤晶圓
晶圓的 ID 號碼會以鐳射標記在矽碟的一小塊區域。這些條碼不是英數字元,就是 DataMatrix 碼,並可在晶圓切割之前,用來在前端製程期間全程追蹤晶圓。歷經不同的光罩、刻蝕及光刻製程後,晶圓 ID 可能會劣化,在晶圓的反光背景下變得難以解碼。


自動識別以進行晶圓追蹤
過去20 多年以來,康耐視晶圓ID 系統已樹立了高讀率和穩定可靠的標準,In-Sight 1740 系列也不例外。In-Sight 1740 系列晶圓讀碼器麻雀雖小、五臟俱全,能發揮極致效能!

康耐視產品指南

In-Sight 1740 Conversion Guide

In-Sight 1740 Wafer Reader User Manual 


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詳細資訊

Part Number
IS1741-01-450
IS1742-11-450

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在高度競爭下,全球的半導體產業需要能夠更嚴格控管日益複雜的製程,才能物盡其用、發揮最大產能,以及達到零錯誤率。而在整個後端處理中,必須能夠追蹤晶圓,對於獲利率更是重要。 過去 20 多年以來,康耐視晶圓 ID 系統已樹立了高讀率和穩定可靠的標準,In-Sight 1740 系列也不例外。In-Sight 1740 系列晶圓讀碼器麻雀雖小、五臟俱全,能發揮極致效能!一個完全獨立運作的小巧系統,提供了達成高讀率的一切功能,且依然穩定可靠。


In Sight 1740 Series Wafer ID晶圓識別基本操作手冊影片解說


COGNEX康耐視WAFER ID系統

晶圓可追溯性的重要性
在半導體製造過程中,確保晶圓的可追溯性至關重要。通過一致的方式解碼晶圓ID標記,可以在切割流程之前可靠地追蹤每片晶圓。晶圓的ID號碼通常以鐳射標記在矽片的一小塊區域,這些標記可能是英數字元條碼或DataMatrix碼。這些標記在晶圓前端製程期間經歷不同的光罩、刻蝕及光刻製程後,可能會劣化,導致在反光背景下變得難以解碼。

康耐視晶圓ID系統 - 高效可靠的晶圓追蹤解決方案
過去20多年來,康耐視晶圓ID系統已經樹立了高讀率和穩定可靠的標準。最新的In-Sight 1740系列晶圓讀碼器更是將這一標準推向新的高度。該系列讀碼器雖然體積小巧,但功能強大,能在多種苛刻的環境下發揮極致效能。

In-Sight 1740系列晶圓讀碼器
♦ 高讀率:無論是英數字元條碼還是DataMatrix碼,In-Sight 1740系列都能以極高的讀取率精確解碼。
♦ 穩定可靠:即使在晶圓ID劣化或反光背景下,仍能穩定解碼,保障生產流程的連續性。
♦ 小巧靈活:麻雀雖小、五臟俱全,In-Sight 1740系列晶圓讀碼器能在有限的空間內提供卓越的讀取性能。

型號及規格
♦ IS1741-01-450:高性能晶圓讀碼器,適用於各種環境和應用。
♦ IS1742-11-450:進階型晶圓讀碼器,提供更強大的功能和更高的靈活性。

為什麼選擇康耐視晶圓ID系統?
♦ 20多年行業經驗:康耐視在自動識別和晶圓追蹤領域擁有豐富的經驗和可靠的技術。
♦ 卓越的讀取性能:In-Sight 1740系列以其高讀取率和穩定性,成為市場上最值得信賴的產品。
♦ 靈活應用:無論是光罩、刻蝕、光刻製程,還是各種苛刻的生產環境,康耐視晶圓ID系統都能輕鬆應對。
了解更多關於康耐視WAFER ID系統的信息,請訪問我們的產品頁面或聯繫我們的銷售團隊。

總結
康耐視WAFER ID系統,以其卓越的讀取性能和穩定性,確保了半導體製造過程中晶圓的可追溯性。在高效能和可靠性的保障下,康耐視晶圓ID系統將為您的生產流程提供最佳的解決方案。選擇康耐視,就是選擇品質與信賴。立即了解更多,讓康耐視WAFER ID系統助您實現高效的晶圓追蹤。

先進的照明系統

具備 12 種模式之內建軟體控制、亮場和暗場照明功能,幾乎任何的 ID 打標,In-Sight 1740 系列讀碼器均可拍攝其影像。超軟打標、超薄塗層藍寶石基板 - In-Sight 1740 系列照明系統都能從容應付這些挑戰,且不僅止於此。加上,因應業者開發出新型的晶圓製程和塗層,In-Sight 1740 系列讀碼器以專業照明裝置搭配輔助燈具連接埠,只需經過延伸即可解決成像上的新挑戰。  

亮場照明

 Dark-field

暗場照明

業經證實的讀取演算法

即使最有效的照明,都需要先進的 ID 演算法才能成功掃讀 OCR、T7 資料矩陣,以及難以拍攝晶圓影像上的條碼。In-Sight 1740 系列的核心就是康耐視讀取演算法,這是康耐視根據安裝其超過 31,000 個晶圓 ID 系統的獨特經驗所開發,對於邊緣球狀物造成外觀不佳的 ID 打標、CMP、刻劃在壓鑄的圖案及其他情況,這些演算法已證實是業界中最堅固、最可靠的演算法。


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SEMI T7

影像增強濾鏡

晶圓處理效應可能會影響 ID 打標品質,最嚴重的程度時,即使是最先進的照明系統和軟體演算法都無法讀取。In-Sight 1740 系列讀碼器可使用自動影像增強濾鏡,克服這些外觀不佳情況。在最嚴苛的情況下,濾鏡能將讀取失敗轉成成功讀取,同時增加可靠性,並消除人工介入作業之需要。

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無 OCR 濾鏡

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有 OCR 濾鏡

更快的掃讀效能

In-Sight 1740 系列的掃讀速度比前一代熱銷 In-Sight 1720 系列機種快了 40%。如虎添翼的功能也可以用來執行更需要處理器資源的影像分析,並提供卓越可靠的結果,且不會增加整體掃讀次數。


Cognex In-Sight1741晶圓讀碼器產品規格表




Wafer ID的使用問題與解決方案:

使用IS1741時儘管誤讀了 SEMI OCR,但仍通過了 SEMI 校驗和規範?

IS1741 In-Sight Explorer 中顯示為「已鎖定」的說明和修復(顯示 Locker)

使用IS1741時儘管誤讀了 SEMI OCR,但仍通過了 SEMI 校驗和規範?

IS1741晶圓ID應用中使用紅外線照明解決方案的優勢

如何在IS1741中選擇正確的通訊協定

修正了 WaferID 中有關輸出時間的問題

解決IS1741 OCR讀取得分高於接受閥值但失敗

IS1741擷取中視覺失真的說明,視場左右兩側焦距未調整

如何計算SEMI OCR校驗和以及通過/失敗判斷

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