無與倫比的影像品質
陰影技術中的許多形狀依賴環形照明或多個條形照明,由於光線角度不佳,這些照明方法限制了缺陷細節的呈現。Trevista CI Dome 提供的細節更多,它能從各個角度照亮零件,顯示更多的缺陷。利用從不同照明象限擷取的一系列影像,專利的 Trevista「自陰影重建形狀」演算法可建立更詳細、品質更高且可重複性更強的合成影像集,從而增強檢測過程。

影像處理速度更快
高產量的製造商需要快速的生產速度,以滿足需求、交付卓越品質零件,並最大化生產能力和效率。相較於其他計算成像解決方案,Trevista CI Dome 能夠將擷取和合成零件表面的拓撲影像的速度加快兩倍,從而提高效能與產能。Trevista CI Dome 使用 VisionPro 內的「自陰影重建形狀」工具和漫射穹頂照明,無論零件方向或位置如何,都能夠以非常快的速度為輪廓零件合成高品質表面立體影像,從而縮短每個零件所需的檢測時間。
高細節表面視覺化
為確保產品的品質和產量達到目標,製造商通常會容忍一些超出實際需求的零件生產,也就是零件過剩。這種做法可能導致更多次品或廢品產生,同時也增加了生產成本。漫射穹頂照明能夠擷取來自各個角度的光反射,更有效地照亮凹凸形狀,進而更準確地取得表面坡度信息。人工智慧視覺工具能夠利用這些資訊來區分表面缺陷的嚴重程度。評估和區分缺陷嚴重程度有助於減少過剩,降低報廢率,降低成本。

理想應用
Trevista CI Dome 使用強大的「自陰影重建形狀」技術,能夠檢測反光和霧面表層上的微細缺陷 Trevista CI Dome 非常適用於檢測允許一定較小誤差範圍的亮面或霧面零件,例如電動車 (EV) 電池和 PCB 零件。
電動車 (EV)EV 電池檢測
辨識電池的表面缺陷並將其分類為關鍵缺陷或外觀缺陷。
PCB 檢測
確認安裝在印刷電路板 (PCB) 上的 IC 晶片方向的正確。