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在Cognex IS1741/IS1742 應用程式中混合 OCR 和 T7 讀取時的常見問題
技術主題｜Wafer ID 晶圓讀碼。下方原文收錄此主題的操作或應用資料。
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宇佑可依現場設備與檢測需求協助晶圓標記成像、OCR／符號判定與讀碼結果交握。洽詢時請提供讀碼器型號、晶圓標記樣本、失敗影像與預期輸出。
技術說明與操作資料
問題：
在 WaferID 應用程式中混合 OCR 和 T7 讀取時的常見問題
事件 ：
當您定義多個配置來混合 OCR 和 T7 讀取時，會報告不同的字元。
使用者的晶圓上刻有OCR 字元和T7 符號，其中使用者在單獨的Config 中定義OCR 和T7，並期望在任何Config 上讀取成功，但是因為OCR 中讀取時和T7 中讀取時報告的字元數不同，上位PLC判定錯誤。
可能的原因：
附加到OCR 校驗和字元的兩位SEMI 校驗和字元導致OCR 掃描時報告兩個字元的長字串，而解碼後的字串沒有校驗和，因為T7 不需要校驗和，因此兩者都傳回不同數量的字元。
解決方案：
這是一個偶爾發生的問題。對於某些用戶來說，為了避免這個問題，這種情況非常罕見，儘管在某些情況下，T7 包含了最初未添加的 SEMI 校驗和字符，並且將它們編碼在 T7 中。
