Cognex In-Sight 1741｜半導體 Wafer ID 讀取解決方案
► Cognex Wafer ID 產品參考
專為半導體晶圓製程打造的高精度 Wafer ID Reader，以 100% 自動化、零誤判、全材質支援為核心，確保產線穩定與追溯管理無縫銜接。
全自動、高穩定、零誤讀的先進晶圓身分識別平台
在晶圓製造及封測產線中，Wafer ID 的準確追蹤能力即是良率管理的核心指標。面對先進製程、材料多樣化（sapphire、polyimide、超薄膜層）、極端低反射與弱對比 ID 標記，傳統讀取器往往無法穩定辨識，導致工站停機、等待人工介入，增加營運成本。
Cognex In-Sight 1741 為全球半導體產線設計的高階晶圓 ID 讀取器，以 100% 無人化讀取穩定度、極致影像品質與業界最強 OCR/T7 解碼引擎，協助晶圓廠全面提升設備稼動率與追溯管理能力。
核心優勢
♦ 支援 SEMI 字型、SEMI T7、Data Matrix、OCR-A 等主流碼制。
♦ 12 種內建光源模式，涵蓋明場與暗場，可讀超薄膜層與高反光晶圓。
♦ 自動配方最佳化與自學濾波，可適應批次差異，提高讀取穩定度。
♦ 讀取效能較上一代提升 40%，支援高速產線節拍。
♦ 相容各主流半導體製程設備，快速導入現場。
技術規格
| 解析度 | 1024 × 768 CCD |
|---|---|
| 光源 | 紅光 622 nm，11 種內建光源 + 外接暗場 |
| 支援碼制 | SEMI 字型、SEMI T7、DataMatrix、OCR-A、IBM |
| 通訊介面 | Ethernet / RS-232 |
| 工作距離 | 5–80mm 可調 |
| 耐用性 | 符合 CE、UL、RoHS、SEMI S2-0709 |
適用製程
FOUP Load Port、Pre-Aligner、Sorting、CMP、薄膜沉積、切割製程、第三類半導體材料等。
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