宇佑科技｜康耐視 AOI 技術資源
康耐視 IS1741/IS1742 擷取視場失真問題分析：焦距未調整Wafer ID 無法穩定讀取的解決方案
技術主題｜Wafer ID 晶圓讀碼。下方原文收錄此主題的操作或應用資料。
宇佑科技機器視覺技術服務
宇佑可依現場設備與檢測需求協助晶圓標記成像、OCR／符號判定與讀碼結果交握。洽詢時請提供讀碼器型號、晶圓標記樣本、失敗影像與預期輸出。
技術說明與操作資料
► Cognex Wafer ID 產品參考
Cognex IS1741 是一款專為半導體晶圓（Wafer）ID辨識設計的工業視覺系統
問題 ：
視野左右兩側焦點稍有失焦，焦點在中央附近，Wafer ID 無法穩定讀取。這是故障嗎？
可能的原因：
儘管存在一些差異，但這是預期的情況，因為由於透鏡的存在，影像往往不會聚焦在視野的最左側和最右側。然而，在極少數情況下，某些鏡頭的邊緣模糊程度會超出預期。
解決方案：
(1)首先，確保 WaferID 和晶圓平行放置。
(2)在大多數情況下，降低焦點不會影響閱讀能力。然而，對於畸變特別嚴重的鏡頭，可能需要更換裝置。
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