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解釋Cognex IS1741/is1742 誤讀 SEMI OCR 但通過 SEMI 校驗的原因
技術主題｜Wafer ID 晶圓讀碼。下方原文收錄此主題的操作或應用資料。
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宇佑可依現場設備與檢測需求協助晶圓標記成像、OCR／符號判定與讀碼結果交握。洽詢時請提供讀碼器型號、晶圓標記樣本、失敗影像與預期輸出。
技術說明與操作資料
Cognex IS1741 是一款專為半導體晶圓（Wafer）ID辨識設計的工業視覺系統
問題：
讀取 SEMI OCR 時，即使明顯誤讀，但SEMI 校驗和也會通過?
Pass SEMI Checksum Despite Misreading of SEMI OCR?
可能的原因：
如果誤讀超過一個字符，SEMI 校驗和可以通過，這是 SEMI 校驗和規範。
接下來，即使實際發生了誤讀，SEMI 校驗和也通過了。
沒有實際圖像，但這些是其他示例。
錯誤： CP4FU248SEF7（SEMI 校驗與通過）
正確： CL4FU248SEE7
錯誤： MLF4U152WAD7（SEMI 校驗和通過）
正確： M6E4U152WAD7
解決方案：
(1)如果在“校驗和”欄位中指定“SEMI with Virtual”而不是“SEMI”，則虛擬校驗和的接受將是可靠的。
(2)透過將「字元閾值」項設定為較高的值，可以嚴格判斷錯誤字元。
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